标准号GB/T 1553-2023状态
发布于：2023-08-06
实施于：2024-03-01
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法基本信息
标准号：GB/T 1553-2023
全部代替标准：GB/T 1553-2009
标准类别：方法
中国标准分类号：H21
国际标准分类号： 77.040 77 冶金，77.040 金属材料试验
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门：国家标准化管理委员会
国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 有研半导体硅材料股份公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、广州昆德半导体测试技术有限公司、青海芯测科技有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、浙江海纳半导体股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、江苏鑫华半导体科技股份有限公司、亚洲硅业（青海）股份有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、云南驰宏国际锗业有限公司。
主要起草人 孙燕 、宁永铎 、李素青 、朱晓彤 、贺东江 、王昕 、薛心禄 、徐岩 、潘金平 、严大洲 、王彬 、蔡云鹏 、田新 、赵培芝 、冉胜国 、韩成福 、普世坤 、蔡丽艳 、高源 、赵晶 、崔丁方 。