当前位置:规范网标准国家标准硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 (GB/T 1553-2009)

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 (GB/T 1553-2009)

免费下载 GB/T 1553-2009
*本站除公开标准均为非正式版标准(不限于征求意见稿、送审稿、报批稿等)仅供参考,使用请以正式出版的标准为准。

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 (GB/T 1553-2009)

标准号GB/T 1553-2009状态

发布于:2009-10-30

实施于:2010-06-01

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法基本信息

标准号:GB/T 1553-2009

全部代替标准:GB/T 1553-1997

中国标准分类号:H80

国际标准分类号: 29.045     29 电气工程 29.045 半导体材料

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误