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半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的) (GB/T 4937.32-2023)

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半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的) (GB/T 4937.32-2023)

标准号GB/T 4937.32-2023状态

发布于:2023-05-23

实施于:2023-12-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)基本信息

标准号:GB/T 4937.32-2023

标准类别:方法

中国标准分类号:L40

国际标准分类号: 31.080.01 31 电子学,31.080 半导体分立器件,31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、合肥联诺科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司。

主要起草人 裴选 、张魁 、黄纪业 、席善斌 、彭浩 、魏兵 、林瑜攀 、颜天宝 。

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