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红外焦平面阵列参数测试方法 (GB/T 17444-2013)

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红外焦平面阵列参数测试方法 (GB/T 17444-2013)

标准号GB/T 17444-2013状态

发布于:2013-11-12

实施于:2014-04-15

红外焦平面阵列参数测试方法基本信息

标准号:GB/T 17444-2013

全部代替标准:GB/T 17444-1998

中国标准分类号:L52

国际标准分类号: 31.260     31 电子学 31.260 光电子学、激光设备

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

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