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金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 (GB/T 37211.3-2022)

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金属锗化学分析方法  第3部分:痕量杂质元素的测定  辉光放电质谱法 (GB/T 37211.3-2022)

标准号GB/T 37211.3-2022状态

发布于:2022-12-30

实施于:2023-04-01

金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法基本信息

标准号:GB/T 37211.3-2022

标准类别:方法

中国标准分类号:H17

国际标准分类号: 77.040 77 冶金,77.040 金属材料试验

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 安徽光智科技有限公司、云南驰宏锌锗股份有限公司、国标(北京)检验认证有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、东方电气(乐山)峨半高纯材料有限公司、有研国晶辉新材料有限公司、广东先导稀材股份有限公司、广东飞成新材料有限公司。

主要起草人 朱赞芳 、谭秀珍 、廖吉伟 、刘红 、吴王昌 、黎亚文 、李瑶 、刘英波 、李正美 、崔丁方 、李江霖 、段春芳 。

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