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低温下晶体透射率的试验方法 (GB/T 16864-1997)

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低温下晶体透射率的试验方法 (GB/T 16864-1997)

标准号GB/T 16864-1997状态

发布于:1997-06-16

实施于:1997-12-01

低温下晶体透射率的试验方法基本信息

标准号:GB/T 16864-1997

中国标准分类号:N05

国际标准分类号: 17.180.01     17 计量学和测量、物理现象 17.180 光学和光学测量 17.180.01 光学和光学测量综合

归口单位:中国科学院

执行单位:中国科学院

主管部门:中国科学院

国家标准《低温下晶体透射率的试验方法》由491(中国科学院)归口上报及执行,主管部门为中国科学院。

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