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重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 (GB/T 14847-1993)

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重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 (GB/T 14847-1993)

标准号GB/T 14847-1993状态

发布于:1993-12-30

实施于:1994-09-01

标准状态:被代替

重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法基本信息

标准号:GB/T 14847-1993

被代替日期:2011-10-01

中国标准分类号:H21

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

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