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有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法 (T/HBAI 001-2024)

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有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法 (T/HBAI 001-2024)

标准号T/HBAI 001-2024状态

发布日期:2024年10月17日

实施日期:2024年10月25日

有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法基本信息

标准编号:T/HBAI 001—2024

英文标题:Organic light emitting diode displays – Quantitative evaluation methods of surface Mura

国际标准分类号:31.120

国民经济分类:C397 电子器件制造

起草人:杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、刘洒、林松、陈若愚

起草单位:华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数字化设计与制造创新中心有限公司

范围:本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。本文件主要适用于有机发光二极管显示器。本文件

内容概括:本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法,该方法采用双刺激度对照实验方法,以减少主观因素对实验结果的影响。同时提出Mura缺陷……

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