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电子器件微小漏率检测方法 (T/BEA 43007-2024)

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电子器件微小漏率检测方法 (T/BEA 43007-2024)

标准号T/BEA 43007-2024状态

发布日期:2024年09月11日

实施日期:2024年09月20日

电子器件微小漏率检测方法基本信息

标准编号:T/BEA 43007—2024

英文标题:Test Methods for Minor Leakage Detection of Electronic Devices

国际标准分类号:17.020

国民经济分类:M745 质检技术服务

起草人:董云宁、王汐月、陈俊儒、闫睿、卢耀文、陈千睿、张湧颀、杨传森、田明利、梁进智、梁田、康朋伟、朱振良。

起草单位:北京东方计量测试研究所、中国电子科技集团公司第十二研究所、 中国电子科技集团公司第十一研究所、 南京三乐集团有限公司

范围:本标准适用于电子仪器行业中,检测漏率要求在(1×10-11~5×10-16)Pa·m3/s范围内的行波管、速调管、光电器件、陀螺仪、功率开关器件等电子器件产品。

内容概括:3术语定义下列术语和定义适用于本规范。3.1超灵敏度检漏Ultrasensitiveleakdetection将漏率小于1×10-11Pa·m3/s的微小漏率检……

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