标准号T/CNS 81-2022状态
发布日期：2022年12月16日
实施日期：2023年04月01日
电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法基本信息
标准编号：T/CNS 81—2022
英文标题：Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device
国际标准分类号：27.120.01核能综合
中国标准分类号：F 70
国民经济分类：C397 电子器件制造
起草人：文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟
起草单位：中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部
范围：本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。
内容概括：本文件描述了采用质子对电荷耦合器件（CCD）进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。……