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硅光电倍增管性能测试方法 (T/ZOIA 3002-2024)

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硅光电倍增管性能测试方法 (T/ZOIA 3002-2024)

标准号T/ZOIA 3002-2024状态

发布日期:2024年02月04日

实施日期:2024年02月04日

硅光电倍增管性能测试方法基本信息

标准编号:T/ZOIA 3002—2024

国际标准分类号:31.080.10二极管

国民经济分类:C397 电子器件制造

起草人:郭霞、胡安琪、李少斌、刘巧莉、张明、王涛、安少辉、韩振杰、钱森、夏江腾、张世凤、任艳玲。

起草单位:北京邮电大学、无锡中微晶园电子有限公司、上海联影医疗科技股份有限公司、中国科学院高能物理研究所。

内容概括:本标准规定了硅光电倍增管性能测试方法,包括测试目的、测试步骤、测试要求、测量方法等本文件适用于SiPM性能的测试,与芯片尺寸、像素数目、封装形式无关。……

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