标准号T/CIE 134-2022状态
发布日期：2022年08月10日
实施日期：2022年08月10日
磁随机存储芯片数据保持时间测试方法基本信息
标准编号：T/CIE 134—2022
国际标准分类号：31.200
国民经济分类：I6520 集成电路设计
起草人：赵巍胜、彭守仲、李伟祥、芦家琪、李月婷、雷娜、曹凯华、王昭昊、聂天晓、张博宇、刘佳豪、刘照春、王戈飞、刘宏喜、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、郑宏超、陆时进、李鑫云、曹安妮、郭玮、何帆、程厚义、杜寅昌。
起草单位：北京航空航天大学、致真存储（北京）科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司。
内容概括：本标准给出了磁随机存储（MagneticRandomAccessMemory;MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等……