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射频电源动态阻抗测试方法 (T/GVS 007-2022)

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射频电源动态阻抗测试方法 (T/GVS 007-2022)

标准号T/GVS 007-2022状态

发布日期:2022年07月11日

实施日期:2022年07月11日

射频电源动态阻抗测试方法基本信息

标准编号:T/GVS 007—2022

英文标题:Test method for dynamic impedance of RF generator

国际标准分类号:19.080

中国标准分类号:K 80

国民经济分类:M745 质检技术服务

起草人:乐卫平、林伟群、姚志毅、唐亚海、林桂浩、黄永镇、刘涛、张桂东、张赛谦、郭冬、高飞。

起草单位:深圳市恒运昌真空技术有限公司、广东工业大学、大连理工大学、拓荆科技股份有限公司。

范围:本文件规定了射频电源动态阻抗测试方法的术语和定义、原理、测试环境条件、仪器设备、测试方法、测试报告。本文件适用于半导体刻蚀、薄膜沉积等应用场合中,输出频率0.2 MHz~100 MHz的射频电源动态阻抗测试。

是否包含专利信息:否

规定了射频电源动态阻抗测试方法的术语和定义、原理、测试环境条件、仪器设备、测试方法、测试报告。适用于半导体刻蚀、薄膜沉积等应用场合中,输出频率0.2MHz~10……

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