标准号T/ZACA 041-2022状态
发布日期：2022年06月28日
实施日期：2022年07月01日
混合信号半导体器件测试设备基本信息
标准编号：T/ZACA 041—2022
英文标题：Mixed signal semiconductor device test equipment
国际标准分类号：17.040.30测量仪器仪表
中国标准分类号：L87
国民经济分类：C402 专用仪器仪表制造
起草人：陈永、凌云、邬刚、王瑞金、翁正林。
起草单位：杭州加速科技有限公司,通富微电子股份有限公司、华天科技（西安）有限公司、长三角集成电路工 业应用技术创新中心、矽力杰半导体技术（杭州）有限公司、北京集创北方科技股份有限公司
范围：本文件适用于数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等半导体器件功能和性能测试设备。
是否包含专利信息：否
本文件规定了混合信号半导体器件测试设备（以下简称测试设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标识、包装、运输和贮存。……