当前位置:规范网标准团体标准人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 (T/CESA 1121-2020)

人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 (T/CESA 1121-2020)

下载
免费下载 T/CESA 1121-2020

人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 (T/CESA 1121-2020)

标准号T/CESA 1121—2020状态

发布时间:2020年10月30日

实施时间:2020年11月10日

人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法基本信息

标准号:T/CESA 1121—2020

团体名称:中国标准化协会

主要技术内容:本文件规定了对端侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于端侧深度学习芯片。本文件只规定端侧深度学习芯片基准测试的一般原则。本文件适用于第三方机构对端侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于端侧深度学习芯片产品的采购、设计。

中国标准分类号:I6520 集成电路设计

国际标准分类号:31.200

发证机关:中华人民共和国民政部

行业分类:

标准名称:人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误