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人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 (T/CESA 1120-2020)

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人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 (T/CESA 1120-2020)

标准号T/CESA 1120—2020状态

发布时间:2020年10月30日

实施时间:2020年11月10日

人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法基本信息

标准号:T/CESA 1120—2020

团体名称:中国标准化协会

主要技术内容:本文件规定了对边缘侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于边缘侧深度学习芯片。本文件只规定边缘侧深度学习芯片基准测试的一般原则。本文件适用于第三方机构对边缘侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于边缘侧深度学习芯片产品的采购、设计。边缘侧芯片并不必须具备训练能力。

中国标准分类号:I6520 集成电路设计

国际标准分类号:31.200

发证机关:中华人民共和国民政部

行业分类:

标准名称:人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

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