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液晶单体熔点的测定 差示扫描量热法 (T/SBX 026-2019)

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液晶单体熔点的测定 差示扫描量热法 (T/SBX 026-2019)

标准号T/SBX 026—2019状态

发布时间:2019年12月24日

实施时间:2020年02月01日

液晶单体熔点的测定 差示扫描量热法基本信息

标准号:T/SBX 026—2019

团体名称:中国标准化协会

主要技术内容:本标准规定了采用差示扫描量热仪(DifferentialScanningCalorimetry,简称DSC)测定液晶单体熔点的测试方法的原理、材料、仪器、试验条件、操作步骤,结果表示等内容。本标准适用于液晶单体熔点的测定。该标准规定了《液晶单体熔点的测定差示扫描量热法》的具体要求,可操作性强,部分内容参数高于国行标,填补了现有标准对液晶单体熔点测量的实际操作性能的空白,更适应现代行业的需求,可以作为推荐性标准在液晶组分测试中应用。

中国标准分类号:C266 专用化学产品制造

国际标准分类号:31.120

发证机关:中华人民共和国民政部

行业分类:

标准名称:液晶单体熔点的测定 差示扫描量热法

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