标准号JJF 1254-2010状态
发布于：2010-05-11
实施于：2010-11-11
数显测高仪校准规范基本信息
标准号：JJF 1254-2010
标准名称：数显测高仪校准规范
起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
本规范适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm，量程0mm至1000mm的数显测高仪的校准。数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量测量仪器，用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关形位误差等。