标准号SJ 21347-2018状态
发布于：2018-01-18
实施于：2018-05-01
低温器件与组件极低温度筛选试验方法基本信息
标准号：SJ 21347-2018
标准名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法
英文名称：Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
发布部门：科技工业局
发布于：2018-01-18
实施于：2018-05-01
标准号：SJ 21347-2018
标准名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法
英文名称：Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
发布部门：科技工业局
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