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集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法 (SJ 21147.4-2016)

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集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法 (SJ 21147.4-2016)

标准号SJ 21147.4-2016状态

发布于:2016-01-19

实施于:2016-03-01

集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法基本信息

标准号:SJ 21147.4-2016

标准名称:集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法

英文名称:Measurement of electromagnetic emissions for integrated circuits -Part 4: Measurement of conducted emissions -1Ω/150Ω direct coupling method

发布部门:工业局

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