标准号QJ 10004-2008状态
发布于：2008-02-16
实施于：2008-06-01
宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法基本信息
标准号：QJ 10004-2008
标准名称：宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法
英文名称：Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
发布部门：国防科学技术工业委员会
发布于：2008-02-16
实施于：2008-06-01
标准号：QJ 10004-2008
标准名称：宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法
英文名称：Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
发布部门：国防科学技术工业委员会
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