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石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 (SJ/T 11212-1999)

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石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 (SJ/T 11212-1999)

标准号SJ/T 11212-1999状态

发布于:1999-08-26

实施于:1999-12-01

石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

标准号:SJ/T 11212-1999

中国标准分类号:L21

国际标准分类号:31.020

批准发布部门:信息产业部

行业分类:无

本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A,以SJ/Z 9154.1-1987的π型网络为基础,适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B,是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。

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