标准号SJ/T 10741-2000状态
发布于：2000-12-28
实施于：2001-03-01
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
标准号：SJ/T 10741-2000
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
批准发布部门：信息产业部
行业分类：无
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。
发布于：2000-12-28
实施于：2001-03-01
标准号：SJ/T 10741-2000
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
批准发布部门：信息产业部
行业分类：无
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。
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