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光缆线路性能测量方法 第1部分:链路衰减 (YD/T 1588.1-2006)

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光缆线路性能测量方法 第1部分:链路衰减 (YD/T 1588.1-2006)

标准号YD/T 1588.1-2006状态

发布于:2006-12-11

实施于:2007-01-01

光缆线路性能测量方法 第1部分:链路衰减

标准号:YD/T 1588.1-2006

中国标准分类号:M33

国际标准分类号:33.180.10

批准发布部门:信息产业部

行业分类:无

宋志佗、吴重阳 等

北京通和实益电信科学技术研究所有限公司、江苏亨通光电有限公司等

YD/T 1588的本部分规定了工程中光缆链路衰减的测量方法、测量系统、测量程序和结果。 本部分适用于二氧化硅系单模光纤和多模光纤的光缆链路衰减测量。其它光纤的光缆链路衰减测量也可参照使用。

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