标准号YS/T 702-2009状态
发布于：2009-12-04
实施于：2010-06-01
X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
标准号：YS/T 702-2009
中国标准分类号：H30
国际标准分类号：71.120.10
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：无
秦文忠、邓文军 等
中国铝业有限公司广西分公司、中国铝业有限公司郑州研究院等
本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。