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半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度 (SJ/T 2658.8-2015)

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半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度 (SJ/T 2658.8-2015)

标准号SJ/T 2658.8-2015状态

发布于:2015-10-10

实施于:2016-04-01

半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度

标准号:SJ/T 2658.8-2015

中国标准分类号:L53

国际标准分类号:31.080

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

张戈、赵英

工业和信息化部电子工业标准化研究院

本部分规定了半导体红外发射二极管辐射强度的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

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