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工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 (YS/T 1160-2016)

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工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 (YS/T 1160-2016)

标准号YS/T 1160-2016状态

发布于:2016-07-11

实施于:2017-01-01

工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标准号:YS/T 1160-2016

中国标准分类号:H12

国际标准分类号:29.045

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。

本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定,测定范围为≥1%。

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