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IP核可测性设计指南 (SJ/T 11699-2018)

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IP核可测性设计指南 (SJ/T 11699-2018)

标准号SJ/T 11699-2018状态

发布于:2018-02-09

实施于:2018-04-01

IP核可测性设计指南

标准号:SJ/T 11699-2018

中国标准分类号:L55

国际标准分类号:31.200

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:信息传输、软件和信息技术服务业

王永生、肖立伊、付方发 等

哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心等

本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构,对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。

本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。

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