标准号SJ/T 11706-2018状态
发布于：2018-02-09
实施于：2018-04-01
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
标准号：SJ/T 11706-2018
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
刘芳、尹航、胡海涛 等
中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。