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高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量 (YS/T 37.2-2018)

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高纯二氧化锗化学分析方法  钼蓝分光光度法测定硅量 (YS/T 37.2-2018)

标准号YS/T 37.2-2018状态

发布于:2018-10-22

实施于:2019-04-01

高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量

标准号:YS/T 37.2-2018

中国标准分类号:H17

国际标准分类号:77.040.30

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

本部分规定了高纯二氧化锗中硅含量的测定方法。

本部分适用于高纯二氧化锗中硅含量的测定,测定范围:0.00001%~0.00010%。

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