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半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压 (GB/T 4937.2-2006)

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半导体器件  机械和气候试验方法  第2部分:低气压 (GB/T 4937.2-2006)

标准号GB/T 4937.2-2006状态

发布于:2006-08-23

实施于:2007-02-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压基本信息

标准号:GB/T 4937.2-2006

部分代替标准:GB/T 4937-1995,

中国标准分类号:L40

国际标准分类号: 31.080.01     31 电子学 31.080 半导体分立器件 31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

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