当前位置:规范网标准国家标准半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 (GB/T 4937.30-2018)

半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 (GB/T 4937.30-2018)

下载
免费下载 GB/T 4937.30-2018

半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 (GB/T 4937.30-2018)

标准号GB/T 4937.30-2018状态

发布于:2018-09-17

实施于:2019-01-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理基本信息

标准号:GB/T 4937.30-2018

中国标准分类号:L40

国际标准分类号: 31.080.01     31 电子学 31.080 半导体分立器件 31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误