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集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求 (GB/T 44796-2024)

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集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求 (GB/T 44796-2024)

标准号GB/T 44796-2024状态

发布于:2024-10-26

实施于:2025-05-01

标准类型:PDF

集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求基本信息

标准号:GB/T 44796-2024

标准类别:基础

中国标准分类号:L55

国际标准分类号: 31.200 31 电子学,31.200 集成电路、微电子学

归口单位:全国集成电路标准化技术委员会

执行单位:全国集成电路标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所、神州龙芯智能科技有限公司。

主要起草人 袁世伟 、李守伟 、吉勇 、印琴 、任云飞 、郑卫华 。

集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求 (GB/T 44796-2024)

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