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纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法 (GB/T 44075-2024)

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纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法 (GB/T 44075-2024)

标准号GB/T 44075-2024状态

发布于:2024-05-28

实施于:2024-12-01

纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法基本信息

标准号:GB/T 44075-2024

标准类别:方法

中国标准分类号:A42

国际标准分类号: 17.040.20 17 计量学和测量、物理现象,17.040 长度和角度测量,17.040.20 表面特征

归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会

执行单位:全国纳米技术标准化技术委员会

主管部门:中国科学院

国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为中国科学院。

主要起草单位 苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。

主要起草人 郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。

纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法 (GB/T 44075-2024)

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