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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法 (GB/T 5594.8-2015)

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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  第8部分:显微结构的测定方法 (GB/T 5594.8-2015)

标准号GB/T 5594.8-2015状态

发布于:2015-05-15

实施于:2016-01-01

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法基本信息

标准号:GB/T 5594.8-2015

全部代替标准:GB/T 5594.8-1985

中国标准分类号:L90

国际标准分类号: 31-030     31 电子学 31.030 电子技术专用材料

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

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