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表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准 (GB/T 43661-2024)

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表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准 (GB/T 43661-2024)

标准号GB/T 43661-2024状态

发布于:2024-03-15

实施于:2024-10-01

表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准基本信息

标准号:GB/T 43661-2024

标准类别:方法

中国标准分类号:G04

国际标准分类号: 71.040.40 71 化工技术,71.040 分析化学,71.040.40 化学分析

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

执行单位:全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 中山大学、广东工业大学、暨南大学。

主要起草人 龚力 、杨慕紫 、陈瑜 、张浩 、谢伟广 、谢方艳 、丁喜冬 、陈建 。

表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准 (GB/T 43661-2024)

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