标准号GB/T 4937.35-2024状态
发布于：2024-03-15
实施于：2024-07-01
半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查基本信息
标准号：GB/T 4937.35-2024
标准类别：方法
中国标准分类号：L40
国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所。
主要起草人 裴选 、赵海龙 、彭浩 、尹丽晶 。
半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查 (GB/T 4937.35-2024)