当前位置:规范网标准国家标准金属氧化物半导体气敏元件测试方法 (GB/T 15653-1995)

金属氧化物半导体气敏元件测试方法 (GB/T 15653-1995)

免费下载 GB/T 15653-1995
*本站除公开标准均为非正式版标准(不限于征求意见稿、送审稿、报批稿等)仅供参考,使用请以正式出版的标准为准。

金属氧化物半导体气敏元件测试方法 (GB/T 15653-1995)

标准号GB/T 15653-1995状态

发布于:1995-07-24

实施于:1996-04-01

金属氧化物半导体气敏元件测试方法基本信息

标准号:GB/T 15653-1995

中国标准分类号:L15

国际标准分类号: 31.020     31 电子学 31.020 电子元器件综合

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《金属氧化物半导体气敏元件测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误