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表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 (GB/T 30701-2014)

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表面化学分析  硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 (GB/T 30701-2014)

标准号GB/T 30701-2014状态

发布于:2014-03-27

实施于:2014-12-01

表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定基本信息

标准号:GB/T 30701-2014

中国标准分类号:G04

国际标准分类号: 71.040.40     71 化工技术 71.040 分析化学 71.040.40 化学分析

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

执行单位:全国微束分析标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

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