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表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准 (GB/T 42659-2023)

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表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准 (GB/T 42659-2023)

标准号GB/T 42659-2023状态

发布于:2023-08-06

实施于:2024-03-01

表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准基本信息

标准号:GB/T 42659-2023

标准类别:方法

中国标准分类号:G04

国际标准分类号: 71.040.40 71 化工技术,71.040 分析化学,71.040.40 化学分析

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

执行单位:全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 中国计量科学研究院、上海市计量测试技术研究院、西安交通大学。

主要起草人 李伟 、蔡潇雨 、李适 、杨树明 、程碧瑶 、魏佳斯 、高思田 。

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