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电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理 (GB/T 42706.2-2023)

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电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理 (GB/T 42706.2-2023)

标准号GB/T 42706.2-2023状态

发布于:2023-05-23

实施于:2023-09-01

电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理基本信息

标准号:GB/T 42706.2-2023

标准类别:基础

中国标准分类号:L40

国际标准分类号: 31.020 31 电子学,31.020 电子元器件综合

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州华宇电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、深圳市标准技术研究院、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司、武汉格物芯科技有限公司、惠州市特创电子科技股份有限公司、佛山市毅丰电器实业有限公司。

主要起草人 刘玮 、石东升 、晋李华 、彭勇 、闫萌 、张鑫 、彭浩 、崔波 、魏兵 、赵鹏 、麦日容 、徐昕 、米村艳 、何黎 、陈金星 、吴卫斌 。

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