当前位置:规范网标准国家标准半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) (GB/T 4937.4-2012)

半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) (GB/T 4937.4-2012)

下载
免费下载 GB/T 4937.4-2012

半导体器件  机械和气候试验方法  第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) (GB/T 4937.4-2012)

标准号GB/T 4937.4-2012状态

发布于:2012-11-05

实施于:2013-02-15

半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)基本信息

标准号:GB/T 4937.4-2012

中国标准分类号:L40

国际标准分类号: 31.080.01     31 电子学 31.080 半导体分立器件 31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误