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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 (GB/T 5594.1-1985)

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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  气密性测试方法 (GB/T 5594.1-1985)

标准号GB/T 5594.1-1985状态

发布于:1985-11-27

实施于:1986-12-01

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法基本信息

标准号:GB/T 5594.1-1985

中国标准分类号:L32

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

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