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用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 (GB/T 14863-1993)

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用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 (GB/T 14863-1993)

标准号GB/T 14863-1993状态

发布于:1993-12-30

实施于:1994-10-01

标准状态:被代替

用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法基本信息

标准号:GB/T 14863-1993

被代替日期:2014-08-15

中国标准分类号:L41

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

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