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衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 (DB32/T 4378-2022)

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标准号DB32/T 4378-2022状态

发布于:2022-10-23

实施于:2022-11-23

标准状态:现行

衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法基本信息

标准号:DB32/T 4378-2022

制修订:制定

中国标准分类号:B 61

国际标准分类号:65.020.40

批准发布部门:江苏省市场监督管理局

行业分类:无

标准类别:无

起草人:杨永强、丁海龙、区炳显、谢一麟、陈武魁、刘禹、魏宁、呼志跃、王云超、王勤生、马龙、李璐、屈晓兰、陈辉、秦继恩

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