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半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法 (DB52/T 1104-2016)

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标准号DB52/T 1104-2016状态

发布于:2016-04-01

实施于:2016-10-01

状态:废止

半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

标准号:DB52/T 1104-2016

中国标准分类号:L40

国际标准分类号:31.080.01

批准发布部门:贵州省质量技术监督局

行业分类:制造业

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